Trace Element Analysis

原子荧光光谱:氢化物发生气体控制

2026-05-08
3 min read
GASKITO Technical Team
原子荧光光谱:氢化物发生气体控制

氢化物发生原子荧光光谱(HG-AFS)用于测定砷、硒等元素。气拓质量流量控制器精确控制载气和屏蔽气流量,优化检测灵敏度。

原子荧光光谱(AFS)是一种高灵敏度的元素分析技术,特别适合测定砷、硒、锑、铋等易形成氢化物的元素。氢化物发生技术将这些元素转化为气态氢化物,然后引入原子化器进行荧光检测。

氢化物发生过程中,硼氢化物与酸性样品反应产生氢气和氢化物。载气(氩气或氮气)将氢化物带入原子化器,屏蔽气在原子化器周围形成惰性气体保护层,防止空气淬灭荧光信号。载气和屏蔽气流量的精确控制对检测灵敏度至关重要。

气拓为原子荧光光谱仪提供载气和屏蔽气流量控制方案。采用热式质量流量控制器精确控制两路气体流量,优化氢化物传输效率和原子化环境,显著提高检测灵敏度和稳定性。

Requirements

  • 载气流量精确控制传输氢化物
  • 屏蔽气流量优化原子化环境
  • 荧光信号强稳定性好
  • 检测限低灵敏度高
  • 适用于多种氢化物元素

Key Elements

  • 载气流量:300-600 ml/min
  • 屏蔽气流量:800-1200 ml/min
  • 原子化温度:氩氢火焰
  • 检测限:ppt级
  • 线性范围:3个数量级

GASKITO Solutions

  • 气拓双通道质量流量控制器
  • 独立控制载气和屏蔽气流量
  • 高稳定性优化原子化环境
  • 快速响应匹配氢化物发生
  • 数字通信集成光谱仪系统

Benefits

  • 检测灵敏度提高30%
  • 荧光信号稳定性改善
  • 检测限达到ppt级
  • 适用于多种元素分析

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